首页> 中国专利> 一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法

一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法

摘要

本发明公开一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法,包括步骤:a、粗调上、下测头;b、根据标准量块调整两测头,使两测头具有一定的预压量;c、粗调上测头调节组件的微调件,使得上测头与标准量块上表面的垂直度误差小于微调件的最大调整范围;d、调整第一工作台在X和Y轴方向上移动,上测头在X和Y轴方向上行程内的所有示值波动量均小于一定值;e、调整第一工作台在X和Y轴方向上移动,下测头在X和Y轴方向上的行程内的所有示值波动量均小于一定值;f、移除标准量块,调节上、下测头测帽相接触,沿X轴方向对上测头调节组件的微调件调节,沿Y轴方向对下测头调节组件的微调件调节,达到要求后,将二者分别固定于量块比较仪上。

著录项

  • 公开/公告号CN112304267B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市勤丽华铖科技有限公司;

    申请/专利号CN202011165068.7

  • 发明设计人 刘渤;许文成;

    申请日2020-10-27

  • 分类号G01B21/02(20060101);

  • 代理机构44384 深圳市中科创为专利代理有限公司;

  • 代理人冯建华;刘曰莹

  • 地址 518000 广东省深圳市龙华区民治街道新牛社区民治街道新牛路港深国际中心445

  • 入库时间 2022-08-23 13:25:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-08

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号