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一种Overhauser磁力仪磁测数据置信水平评价方法

摘要

本发明提供一种Overhauser磁力仪磁测数据置信水平评价方法,包括建立不同类型噪声与FID信号特征间的映射关系,得到不同噪声对信号特征的影响,包括幅度变化、衰减速度等;以信号衰减快慢粗略表征信号质量高低,建立X评价体系;分析含噪信号的函数表达式,建立信号信噪比表达式,在此基础上建立Y评价体系;建立磁测误差表达式,分析不同条件下的磁测误差大小;在磁场波动变化和磁测误差变化的基础上建立Z评价体系;以X、Y、Z构成整体磁测数据置信水平评价方法,实现不同测量环境中磁测数据质量的实时准确评价,本评价方法不仅能够实现信号质量评价,且能够进一步实现磁测数据真实置信水平的评价。

著录项

  • 公开/公告号CN113341359B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国地质大学(武汉);

    申请/专利号CN202110549877.6

  • 申请日2021-05-20

  • 分类号G01R35/00(20060101);G06K9/00(20220101);G06F17/15(20060101);

  • 代理机构42238 武汉知产时代知识产权代理有限公司;

  • 代理人孔灿

  • 地址 430000 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号

  • 入库时间 2022-08-23 13:23:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-05

    授权

    发明专利权授予

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