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基于远场测试的天线隔离度预测方法、存储介质和装置

摘要

本发明公开了一种基于收发天线远场测试数据的天线隔离度预测方法、存储介质和装置,方法包括以下步骤:计算从平台上发射天线位置点Tx至接收天线位置点Rx绕几何表面的最短路径即短程线,提取Tx处的射线入射方向和Rx处的射线出射方向从远场测试数据中提取出各个计算离散频率球面上角度网络的天线远场增益数据;计算Tx在方向上的垂直极化增益和水平极化增益计算Tx与Rx的收发极化失配xpol、和Tx与Rx经过短程线导致的空间路径损耗L;得到天线隔离度C。本发明基于现有技术的UTD计算收发天线远场测试数据的天线隔离度,考虑到收、发位置上射线方向对天线增益和极化隔离的影响情况,从而使得隔离度预测更加准确。

著录项

  • 公开/公告号CN113111524B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN202110430904.8

  • 申请日2021-04-21

  • 分类号G06F30/20(20200101);

  • 代理机构51260 成都巾帼知识产权代理有限公司;

  • 代理人邢伟

  • 地址 100000 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 12:30:07

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