首页> 中国专利> 配光特性测量装置和配光特性测量方法

配光特性测量装置和配光特性测量方法

摘要

本发明提供一种用于测量光源的配光特性的配光特性测量装置和配光特性测量方法。配光特性测量装置包括以具有规定的相对关系的方式配置的多个检测器。一个检测器的检测范围的至少一部分与邻接的其它检测器的检测范围重复。配光特性测量装置还包括:驱动单元,其将多个检测器作为一体来进行驱动,由此更新多个检测器相对于光源的位置关系;以及计算单元,其根据由多个检测器在相同的时刻获取到的各个检测结果,进行与多个检测器的相对关系和检测范围的重复中的至少一方相应的处理,计算光源的配光特性。

著录项

  • 公开/公告号CN103364177B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大塚电子株式会社;

    申请/专利号CN201310058976.X

  • 发明设计人 江南世志;

    申请日2013-02-25

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 09:52:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-01

    授权

    授权

  • 2015-04-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20130225

    实质审查的生效

  • 2013-10-23

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号