首页> 中国专利> 一种面向微控制器的时钟自动化测试装置

一种面向微控制器的时钟自动化测试装置

摘要

本实用新型公开了一种面向微控制器的时钟自动化测试装置,包括计算机、交换机、温箱、集线器和频率计。其中,计算机连接集线器,并通过集线器分别连接多个待测的微控制器;计算机通过网线与交换机连接,交换机分别与温箱和频率计连接;待测的微处理器在测试时放置在温箱中,并通过其中的测试IO接口引出sma射频线,连接频率计的输入端口。利用本实用新型,可以解放人力、提高效率、避免操作失误、提高数据可信度,并且大幅度缩短项目的测试周期。

著录项

  • 公开/公告号CN216387799U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2022-04-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津兆讯电子技术有限公司;

    申请/专利号CN202122700368.7

  • 发明设计人 徐佳帅;何代明;杨磊;单国鑫;

    申请日2021-11-05

  • 分类号G05B19/042;G06F11/22;G06F13/38;

  • 代理机构北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陈曦;贾兴昌

  • 地址 300450 天津市滨海新区开发区信环西路19号泰达服务外包产业园5号楼5701-5

  • 入库时间 2022-08-23 06:23:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-04-26

    授权

    实用新型专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号