用于高辐射本底环境下的低本底小物品辐射污染检测仪

摘要

本实用新型公开了用于高辐射本底环境下的低本底小物品辐射污染检测仪，包括设置于所述辐射污染检测仪主体框架上的屏蔽体，所述屏蔽体的厚度为20mm。本实用新型的目的在于提供一种用于高辐射本底环境下的低本底小物品辐射污染检测仪，解决常规的小物品辐射污染监测仪在高辐射本底环境下，存在最低可探测限和漏报率升高的问题。