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一种X射线衍射仪用可控低温样品台

摘要

本实用新型提供一种X射线衍射仪用可控低温样品台,包括样品平台和样品罩,其特征在于:所述样品罩内壁一侧上下对称设有温度感应装置,多个所述温度感应装置居中位置设有温控装置,所述样品罩远离温控装置方向设有换气扇,所述换气扇可拆卸连接样品罩,所述样品罩下方侧面对称焊接两组固定装置,所述样品台下方设有机械平台,所述固定装置螺旋连接机械平台。

著录项

  • 公开/公告号CN214374413U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海晓创检测技术有限公司;

    申请/专利号CN202022391126.X

  • 发明设计人 胡亚红;陈阳明;

    申请日2020-10-23

  • 分类号G01N23/20033(20180101);

  • 代理机构31333 上海微策知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张静

  • 地址 201499 上海市奉贤区庄行镇安东路309号第23幢5层

  • 入库时间 2022-08-23 00:52:17

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