首页> 中国专利> 基于布儒斯特定律的折射率测量装置

基于布儒斯特定律的折射率测量装置

摘要

本实用新型公开了基于布儒斯特定律的折射率测量装置,该装置包括激光发射单元,光电强度探测单元,以及带螺旋测微单元的光具座;所述螺旋测微单元包括螺旋测微标尺,以及手轮式旋钮;所述光具座底端设有滑动轨道,以及滑动设置于该滑动轨道上的载物台;激光发射单元中的激光器固定安装于螺旋测微标尺的零点位置,光电强度探测单元中的探头以可滑动方式安装于螺旋测微标尺上,旋转手轮式旋钮即对探头位置进行微调;激光器、探头、载物台的相对位置应保证:激光器的出射偏振光入射到待测介质的反射面并被反射,且反射光被探头接收。本实用新型将角度测量转化为长度测量,实现了距离连续变化,测量更精确;且不局限于光学玻璃的折射率测量。

著录项

  • 公开/公告号CN213689384U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2021-07-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉科技大学;

    申请/专利号CN202022250974.9

  • 申请日2020-10-12

  • 分类号G01N21/41(20060101);G01N21/01(20060101);

  • 代理机构42248 武汉领君知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人汪俊锋

  • 地址 430081 湖北省武汉市青山区和平大道947号

  • 入库时间 2022-08-22 22:52:41

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号