长波红外成像光谱仪光学系统

摘要

本专利公开了一种长波红外成像光谱仪光学系统，它用于对8～12.5μm波段实现精细分光光谱成像。其特征在于：系统由结构简单的透射式望远成像镜、全反射式低温光谱仪组成。光谱仪中的准直和会聚功能通过一个往返复用偏轴三反完成，利于像差校正、引入平面光栅、光学制造和低温光校。本专利解决了现有技术中采用曲面光栅分光的系统制造成本高昂、采用棱镜或平面光栅分光的系统制冷功耗大、透射镜头离焦、低温光校困难的问题。采用本专利所述的长波红外成像光谱仪光学系统，F数可小于1.9，视场大于15°，可应用于航空遥感领域。