存储颗粒寿命测量方法、装置及计算机设备

摘要

本发明涉及数据存储技术领域，提供了一种存储颗粒寿命测量方法、装置及计算机设备，该方法包括：选取不同闪存芯片中相同物理位置的物理块形成测试组，将测试组中的物理块磨损至预设的测试磨损状态；获取测试组中物理块在不同读写温度组合下经过不同等效驻留时间的数据保持时的测试数据，得到与不同读写温度组合对应的多组测试结果，每组测试结果包括在当前读写温度组合下经过不同等效驻留时间时的测试数据，本发明可快速获得更高维度的颗粒状态和错误比特的映射关系，实现存储颗粒寿命测量，而且能将测试结果按照物理页组进行合并采用伽玛分布的方式进行统计存储，进而有效地减少了测试过程最终存储的数据量。