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一种遵循阿贝原则的六自由度双测头齿轮测量装置

摘要

本发明公开了一种遵循阿贝原则的六自由度双测头齿轮测量装置,属于精密测试技术与仪器、齿轮非接触测量领域。测量装置包括机架单元,Y轴移动单元,Z轴移动单元,双测头测量单元,C轴转动与固定单元。采取以对称分布的形式并联测量关键部件,对齿轮左右侧齿面进行同步测量,且双测头的转动可实现传统测量中需多次导轨移动才能调整测头角度的目的,在Y轴移动单元的两侧安装Z轴移动单元,用于调整双测头在齿宽方向的位置,同时还将光栅标尺同轴安装到Y轴、Z轴移动单元螺母座中心的水平延长线上,既可解决现有齿轮测量装置测量效率低、易引入几何误差、获取齿面数据信息不完整等问题,又减少了阿贝误差对测量装置的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN116448416A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023-07-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湘潭大学;

    申请/专利号CN202310498922.9

  • 发明设计人

    申请日2023-05-06

  • 分类号G01M13/021;G01B11/00;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 411105 湖南省湘潭市雨湖区

  • 入库时间 2024-04-18 19:54:45

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