一种基于ST2500测试机的MCU存储器测试方法

摘要

本发明请求保护一种基于ST2500测试机的MCU存储器测试方法，包括以下步骤：①通过被测MCU的IIC接口设计协议解析模块。②设计测试模式，利用MCU芯片IIC接口进行测试指令以及数据的传输，将MCU作为IIC从机，并采用中断触发机制，测试机发送激活序列使MCU处于复位状态。③激活MCU，若接收到正确的模式代码，则进入存储器测试模式，MCU芯片内部TEST_MODE信号有效，变为高电平。④MCU芯片根据地址数据以及测试数据写入存储器对应的区域，以进行存储器的写数据测试。⑤MCU根据地址数据将对应存储区域的数据通过输出，以进行存储器的读数据测试。⑥测试机将写入MCU的数据与读出的数据进行比较，若读写数据一致，则通过测试，否则测试失败。本发明提高了MCU测试的可靠性与覆盖率。