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一种基于Mie理论的图像粒度检测方法及系统

摘要

本发明公开了一种基于Mie理论的图像粒度检测方法及系统,包括对待测颗粒进行拍摄后,将图像信息存储于数据库中;进一步通过图像处理分析获得颗粒的光强信息;结合Mie理论运算,与标准Mie曲线进行对比,获得颗粒尺寸;输出最终颗粒尺寸信息以及颗粒形貌信息,所述对待测颗粒进行拍摄后,将图像信息存储于数据库中包括:将待测的微小颗粒放大后,并将其成像于CCD的光敏面上;CCD将光信号转换为电信号并输入存储于计算机中,所述进一步通过图像处理分析获得颗粒的光强信息包括:计算机处理器对采集的颗粒散射图像进行处理获得光能分布信息;本发明,具有降低检测下限和提高侦测浓度的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN115561130A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2023-01-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州胤煌精密仪器科技有限公司;

    申请/专利号CN202211194873.1

  • 发明设计人 柳钟丽;杨涛;赵小虎;

    申请日2022-09-29

  • 分类号G01N15/02;

  • 代理机构北京广溢知识产权代理有限公司;

  • 代理人王艳晶

  • 地址 215000 江苏省苏州市昆山市玉山镇祖冲之南路1669号1208室

  • 入库时间 2023-06-19 18:11:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-03

    公开

    发明专利申请公布

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