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一种基于模拟量子器件获取待测系统本征态的方法及装置

摘要

本发明实施例提供了一种基于模拟量子器件获取待测系统本征态的方法和装置,该方法包括:制备第一量子态;基于预设的概率分布,采样得到第一演化时间、第二演化时间和第三演化时间;确定出待测系统对应的哈密顿量;根据哈密顿量、第一、第二和第三演化时间,确定第一、第二和第三幺正操作;基于模拟量子器件,测量对于第一量子态施加第一操作组合的第一期望值,得到第一测量结果,第一操作组合包括第一幺正操作的共轭操作、待测系统的观测量对应的厄密操作和第二幺正操作;基于模拟量子器件,测量对于第一量子态施加第三幺正操作的第二期望值,得到第二测量结果;结合第一测量结果和第二测量结果,获取待测系统的观测量。

著录项

  • 公开/公告号CN115481744A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-12-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学;

    申请/专利号CN202211175090.9

  • 发明设计人 孙金钊;袁骁;

    申请日2022-09-26

  • 分类号G06N10/60;G06N10/20;

  • 代理机构北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人周良玉

  • 地址 100091 北京市海淀区颐和园路5号

  • 入库时间 2023-06-19 18:00:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-16

    公开

    发明专利申请公布

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