金属颗粒诱发的绝缘子表面电荷积聚抑制方法及装置

摘要

本发明提出了金属颗粒诱发的绝缘子表面电荷积聚抑制方法及装置，包括：对盆式绝缘子进行预处理；将预处理后的盆式绝缘子样品在反应腔内进行氟化反应：将反应腔腔体内的空气排净；再向排净空气的腔体内充入F2/N2混合物，在设定的温度和气压下，放入预处理后的盆式绝缘子进行表面氟化处理设定时间；再将氟化处理后的腔体内的气体排出后，反复重放多次N2保证腔体内F2已释放干净，打开反应腔腔体，等温度降到常温后取出，得到抑制金属颗粒诱发绝缘子表面电荷积聚的盆式绝缘子。通过对盆式绝缘子表面氟化改性的处理方式，氟原子以C‑F键的形式进入到聚合物表面，使得两种材料形成更加稳定的化学基团。