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一种采用分光光度法测定氧化铁粉中二氧化硅含量的方法

摘要

本发明提供了一种采用分光光度法测定氧化铁粉中二氧化硅含量的方法:(1)微波消解氧化铁粉,得到消解溶液;(2)混合1‑氨基‑2‑萘酚‑4‑磺酸、无水亚硫酸钠、碳酸氢钠和水,得到还原剂溶液;(3)在待显色溶液中加入钼酸铵、草酸和还原剂溶液进行显色反应,测定吸光度;(4)以水替换待显色溶液,得到参比溶液,测定试剂空白吸光度;(5)混合二氧化硅标准品和无水碳酸钠进行熔融反应,将熔融物溶于水进行显色反应,测定吸光度,绘制标准曲线;(6)结合吸光度、试剂空白吸光度和标准曲线,计算得到氧化铁粉中二氧化硅含量。所述方法将不溶性二氧化硅转化为可溶性硅,通过改进显色反应条件,提升了检测的灵敏度和准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN115219445A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-10-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 河北工业大学;

    申请/专利号CN202210884172.4

  • 申请日2022-07-26

  • 分类号G01N21/31;G01N21/78;G01N1/28;G01N1/44;

  • 代理机构北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人王艳斋

  • 地址 300401 天津市北辰区双口镇西平道5340号

  • 入库时间 2023-06-19 17:17:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-10-21

    公开

    发明专利申请公布

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