一种装备机内测试与综合测试一体化设计方法及系统

摘要

本发明涉及一种装备机内测试与综合测试一体化设计方法及系统，第一次优化的对象为所有故障模式形成的F‑T矩阵，目标为系统测试代价最低，约束条件为系统要求达到的故障检测率和故障隔离率下限；第二次寻优为BIT级的故障模式形成的F‑BIT矩阵，目标为BIT故障检测率、隔离率最高，约束条件为BIT的重量和可靠度，同时反馈调整BIT故障模式集，最终得到BIT级的最优故障模式集、测试集、检测率、隔离率；第三次寻优为ITE级的F‑ITE矩阵，目标为ITE测试代价最低，约束条件为ITE的故障检测率和故障隔离率下限，输出为ITE级的故障模式集、测试集。上述方法有利于开展机内测试与综合测试设备方案的权衡设计。