基于层状结构计算吸收剂量深度分布谱的方法

摘要

本发明提供了一种基于层状结构计算吸收剂量深度分布谱的方法，属于航天器空间环境分析技术领域。方法包括：S1、测量试件的几何结构参数，所述几何结构参数包括总厚度H；S2、根据所述总厚度H，利用插值方法将试件划分为n层，计算深度分布，所述n为大于1的整数；S3、计算步骤S2中每层吸收剂量；S4、依据步骤S2中计算得到的所述深度分布数值和步骤S3中计算得到的每层所述吸收剂量数值，构建吸收剂量深度分布谱。本发明利用插值方法，将简化的平板结构细致分层，之后计算各层平行平板的吸收剂量，构建吸收剂量随深度分布谱，有利于通过简化结构提高计算效率，不仅能够大幅度降低试验成本，还可以大幅度提高模拟效率。