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电子产品的测试方法及电子产品测试装置

摘要

本发明提供了一种电子产品的测试方法及电子产品测试装置。本发明的电子产品的测试方法中,首先,固定待测电子产品,并为待测电子产品提供电源;进而,利用多个探针分别抵接待测电子产品上的各测点,并将各探针通断可控地与控制单元中相应的信号接口连接;通过定义各信号接口的类型、控制各信号接口与相应的探针的通断、并获取待测电子产品的测试数据。本发明的电子产品的测试方法,通过控制信号接口与相应探针的通断,能够对待测电子产品的整体或者局部进行检验。同时,通过定义各信号接口的类型、获取待测电子产品的测试数据,可以根据不同待测电子产品的情况,灵活调配信号接口类型和探针的分布情况,利于提升测试方法及其装置的适用范围。

著录项

  • 公开/公告号CN115015656A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-09-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 河北工业职业技术学院;

    申请/专利号CN202210346004.X

  • 申请日2022-03-31

  • 分类号G01R31/00;G01R1/04;

  • 代理机构石家庄旭昌知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张会强

  • 地址 050000 河北省石家庄市桥西区红旗大街626号

  • 入库时间 2023-06-19 16:41:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-06

    公开

    发明专利申请公布

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