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一种基于Defect-GAN的缺陷样本合成方法

摘要

本发明属于图像合成技术领域,具体涉及一种基于Defect‑GAN的缺陷样本合成方法,包括如下步骤:收集数据、数据预处理、模型构建、模型保存,所述收集数据收集缺陷检测的公共数据集CODEBRIM;所述数据预处理包括归一化、图像缩放、数据划分,保证模型训练效果;所述模型构建构建基于Defect‑GAN的缺陷样本合成模型,输入训练数据,完成参数模型的搭建;所述模型保存当模型的损失函数不再降低之后,保存模型并进行评估。

著录项

  • 公开/公告号CN114936621A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-08-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202210299452.9

  • 申请日2022-03-25

  • 分类号G06N3/04(2006.01);G06N3/08(2006.01);G06V10/774(2022.01);

  • 代理机构深圳科润知识产权代理事务所(普通合伙) 44724;

  • 代理人李小妮

  • 地址 030000 山西省太原市太原高新区科技街15号A118室

  • 入库时间 2023-06-19 16:26:56

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