一种光器件多通道间背光串扰率的测试系统及方法

摘要

本发明提供一种光器件多通道间背光串扰率的测试系统及方法，所述的测试系统包括被测光器件、第一电开关、第二电开关、加电控温仪表和PC机；第一电开关的输入端连接加电控温仪表的加电端，多个输出通道分别连接被测光器件的多个加电引脚；所述的第二电开关的多个输入通道分别连接被测光器件的多个背光电流监测引脚，输出端连接加电控温仪表的电流监测引脚；第一电开关、第二电开关的控制端以及加电控温仪表的数据通讯端口均与PC机连接。通过PC机控制多个电开关的切换控制分别采集被测光器件的背光电流；计算背光串扰率，判断光器件是否失效，可实现光器件多通道间背光串扰率的自动测试，减少人工操作及分析的难度。

说明书

技术领域

本发明涉及半导体激光器技术领域，特别涉及一种光器件多通道间背光串扰率的测试系统及方法。

背景技术

目前，在激光器领域，由于高速芯片的技术难度限制，高速发射器件内现在多为多路发射芯片集成在一个封装内，单出光口，器件内部由多路发射芯片组成。

这种光器件的多通道间背光串扰会影响器件的使用，人工测试操作及分析复杂，因此需要设计一种装置和方法来解决这个问题。

发明内容

为了解决背景技术提出的技术问题，本发明提供一种光器件多通道间背光串扰率的测试系统及方法，实现光器件多通道间背光串扰率的自动测试，解决人工测试操作及分析复杂的问题。

为了达到上述目的，本发明采用以下技术方案实现：

一种光器件多通道间背光串扰率的测试系统，所述的测试系统包括被测光器件、第一电开关、第二电开关、加电控温仪表和PC机；被测光器件为单出光口的光器件，其内部由多路发射芯片组成。

所述的第一电开关的输入端连接加电控温仪表的加电端，多个输出通道分别连接被测光器件的多个加电引脚；所述的第二电开关的多个输入通道分别连接被测光器件的多个背光电流监测引脚，输出端连接加电控温仪表的电流监测引脚；被测光器件的温控引脚与加电控温仪表的温控引脚对应相连；第一电开关、第二电开关的控制端以及加电控温仪表的数据通讯端口均与PC机连接。

进一步地，还包括FPC连接器，被测光器件的引脚装夹在FPC连接器上，通过FPC连接器的引脚与第一电开关、第二电开关以及加电控温仪表对应相连。

所述的一种光器件多通道间背光串扰率的测试系统的测试方法，包括如下步骤：

1)PC机控制第一电开关选为被测光器件的第一个加电引脚LD1+的通道闭合，其余通道断开，打开控温加电仪表加电，PC机控制第二电开关依次选背光电流监测引脚PD1+、PD2+、......、PDn+引脚的通道闭合，控温加电仪表通过第二电开关流过来的电流采集被测光器件的背光电流Ipd11、Ipd12、......、Ipd1n，关闭控温加电仪表加电；背光串扰率为：Ipd12/Ipd11、Ipd13/Ipd11、......、Ipd1n/Ipd11；

2)PC机控制第一电开关选为被测光器件的第二个加电引脚LD2+的通道闭合，其余通道断开，打开控温加电仪表加电，PC机控制第二电开关依次选背光电流监测引脚PD1+、PD2+、......、PDn+引脚的通道闭合，控温加电仪表通过第二电开关流过来的电流采集被测光器件的背光电流Ipd21、Ipd22、......、Ipd2n，关闭控温加电仪表加电；背光串扰率为：Ipd21/Ipd22、Ipd23/Ipd22、......、Ipd2n/Ipd22；

3)以此类推；

4)PC机控制第一电开关选为被测光器件的最后一个加电引脚LDn+的通道闭合，其余通道断开，打开控温加电仪表加电，PC机控制第二电开关依次选PD1+、PD2+、......、PDn+引脚的通道闭合，控温加电仪表通过第二电开关流过来的电流采集被测光器件的背光电流Ipdn1、Ipdn2、......、Ipdnn，关闭控温加电仪表加电；背光串扰率为：Ipdn1/Ipdnn、Ipdn2/Ipdnn、......、Ipd(n-1)n/Ipdnn；

n为被测光器件的通道数，Ipd后的数字序号中的第一个数字代表加电引脚的序号，第二个数字代表背光电流监测引脚的序号；

5)上述的背光电流均上传至PC机中，选取上述的所有背光串扰率中的最大值与预设标准对比，小于预设标准即判为通过，大于等于预设标准则判为失效。

进一步地，整个测试过程中，控温加电仪表将温度控制到50℃，上下允许波动范围根据仪表设定浮动在±0.2℃之内。

进一步地，加电电流设为40-60mA。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明设计的可自动监控光器件多通道间背光串扰率的测试系统及测试方法，通过PC机控制多个电开关的切换控制分别采集被测光器件的背光电流；计算背光串扰率，判断光器件是否失效，可实现光器件多通道间背光串扰率的自动测试，减少人工操作及分析的难度。

附图说明

图1是本发明的一种光器件多通道间背光串扰率的测试系统结构图；

图2是现有技术中的电开关内部原理图；

图3是本发明的一种光器件多通道间背光串扰率的测试系统的测试方法流程图。

其中，1-PC机2-被测光器件3-FPC连接器4-第一电开关、5-第二电开关6-加电控温仪表。

具体实施方式

以下结合附图对本发明提供的具体实施方式进行详细说明。

如图1所示，一种可自动监控光器件多通道间背光串扰率的测试系统，所述的测试系统包括被测光器件2、第一电开关4、第二电开关5、加电控温仪表6和PC机1；被测光器件2为单出光口的光器件，其内部由多路发射芯片组成。

所述的第一电开关4的输入端(LD+、LD-)连接加电控温仪表6的加电端(LD+、LD-)，多个输出通道分别连接被测光器件2的多个加电引脚(LD1+、LD2+、LD3+、LD4+、LD-，LD-为公共端)；所述的第二电开关5的多个输入通道分别连接被测光器件2的多个背光电流监测引脚(PD1+、PD2+、PD3+、PD4+、PD-，PD-为公共端)，输出端连接加电控温仪表6的电流监测引脚(PD+、PD-)；被测光器件2的温控引脚(TH+和TH-为采样热敏电阻的温控采样端，TEC+和TEC-为温控加热端)与加电控温仪表6的温控引脚对应相连；第一电开关4、第二电开关5的控制端(通过USB端口)以及加电控温仪表6的数据通讯端口(通过USB端口)均与PC机1连接。

进一步地，还包括FPC连接器3，被测光器件2的引脚装夹在FPC连接器3上，通过FPC连接器3的引脚与第一电开关4、第二电开关5以及加电控温仪表6对应相连。由于光器件的引脚是以FPC方式引出的，FPC连接器3为现有技术的FPC(软连接电缆)连接器。采用FPC连接器3用来固定装夹被测光器件2的引脚，当完成测试后，方便取出，重新装夹下一个待测光器件。

PC机1与第一电开关4、第二电开关5之间通过USB连接通讯，PC机1可控制第一电开关4、第二电开关5进行通道选择；PC机1与加电控温仪表6通过USB连接，可实现PC机1控制加电控温仪表6的控温和加电功能，加电控温仪表6亦可回传数据至PC机1。

图2为现有技术中的电开关内部走线示意图，本案例中，被测光器件2每路的LD+和PD+都与电开关相连，电开关可以控制每一通道的断开或闭合，被选择的通道的电流最终从另一端流出。第一电开关4、第二电开关5的结构相同，只不过第一电开关4以多通道方向为输出方向，第二电开关5以多通道方向为输入方向。

一种光器件多通道间背光串扰率的测试系统的测试方法，包括如下步骤：

1)PC机1控制第一电开关4选为被测光器件2的第一个加电引脚LD1+的通道闭合，其余通道断开，打开控温加电仪表6加电，PC机1控制第二电开关5依次选背光电流监测引脚PD1+、PD2+、......、PDn+引脚的通道闭合，控温加电仪表6通过第二电开关5流过来的电流采集被测光器件2的背光电流Ipd11、Ipd12、......、Ipd1n，关闭控温加电仪表6加电；背光串扰率为：Ipd12/Ipd11、Ipd13/Ipd11、......、Ipd1n/Ipd11；

2)PC机1控制第一电开关4选为被测光器件2的第二个加电引脚LD2+的通道闭合，其余通道断开，打开控温加电仪表6加电，PC机1控制第二电开关5依次选背光电流监测引脚PD1+、PD2+、......、PDn+引脚的通道闭合，控温加电仪表6通过第二电开关5流过来的电流采集被测光器件2的背光电流Ipd21、Ipd22、......、Ipd2n，关闭控温加电仪表6加电；背光串扰率为：Ipd21/Ipd22、Ipd23/Ipd22、......、Ipd2n/Ipd22；

3)以此类推；

4)PC机1控制第一电开关4选为被测光器件2的最后一个加电引脚LDn+的通道闭合，其余通道断开，打开控温加电仪表6加电，PC机1控制第二电开关5依次选PD1+、PD2+、......、PDn+引脚的通道闭合，控温加电仪表6通过第二电开关5流过来的电流采集被测光器件2的背光电流Ipdn1、Ipdn2、......、Ipdnn，关闭控温加电仪表6加电；背光串扰率为：Ipdn1/Ipdnn、Ipdn2/Ipdnn、......、Ipd(n-1)n/Ipdnn；

n为被测光器件2的通道数，Ipd后的数字序号中的第一个数字代表加电引脚的序号，第二个数字代表背光电流监测引脚的序号；

6)上述的背光电流均上传至PC机1中，选取上述的所有背光串扰率中的最大值与预设标准对比，小于预设标准即判为通过，大于等于预设标准则判为失效。

进一步地，整个测试过程中，控温加电仪表6将温度控制到50℃，上下允许波动范围根据仪表设定浮动在±0.2℃之内。

进一步地，加电电流设为40-60mA。

以图1的四通道激光器件为例，所述的方法的实施例流程如图3所示，具体如下：

1)打开控温加电仪表6，将被测光器件2装夹到待测器件FPC连接器3上，做好测试前的准备工作；

2)在PC机1里输入DUT(被测光器件2)的PN，独一无二的SN，开始测试；

3)加电控温仪表6通过与其直连的TH+和TH-采样热敏电阻的阻值，热敏电阻不同的阻值对应不同的温度，在加电控温仪表6上进行显示，同时可以刷新到程序上显示；

4)加电控温仪表6预设测试温度为50℃，加电电流为50mA，PC机1内预设了串扰通过标准N％；PC机1控制1.6控温加电仪表，开1.6将DUT的温度控制到50℃，上下允许波动范围根据仪表设定浮动在±0.2℃之内；

5)PC机1控制第一电开关4选为LD1+引脚的通道闭合，其余通道断开，打开控温加电仪表6加电，PC机1控制第二电开关5依次选PD1+、PD2+、PD3+、PD4+引脚的通道闭合，控温加电仪表6通过第二电开关5流过来的电流采被测光器件2的背光电流Ipd11、Ipd12、Ipd13、Ipd14，关闭控温加电仪表6加电；背光串扰率为：Ipd12/Ipd11、Ipd13/Ipd11、Ipd14/Ipd11；

6)PC机1控制第一电开关4选为LD2+引脚的通道闭合，其余通道断开，打开控温加电仪表6加电，PC机1控制第二电开关5依次选PD1+、PD2+、PD3+、PD4+引脚的通道闭合，控温加电仪表6通过第二电开关5流过来的电流采被测光器件2的背光电流Ipd21、Ipd22、Ipd23、Ipd24，关闭控温加电仪表6加电；背光串扰率为：Ipd21/Ipd22、Ipd23/Ipd22、Ipd24/Ipd22；

7)PC机1控制第一电开关4选为LD3+引脚的通道闭合，其余通道断开，打开控温加电仪表6加电，PC机1控制第二电开关5依次选PD1+、PD2+、PD3+、PD4+引脚的通道闭合，控温加电仪表6通过第二电开关5流过来的电流采被测光器件2的背光电流Ipd31、Ipd32、Ipd33、Ipd34，关闭控温加电仪表6加电；背光串扰率为：Ipd31/Ipd33、Ipd32/Ipd33、Ipd34/Ipd33；

8)PC机1控制第一电开关4选为LD4+引脚的通道闭合，其余通道断开，打开控温加电仪表6加电，PC机1控制第二电开关5依次选PD1+、PD2+、PD3+、PD4+引脚的通道闭合，控温加电仪表6通过第二电开关5流过来的电流采被测光器件2的背光电流Ipd41、Ipd42、Ipd43、Ipd44，关闭控温加电仪表6加电；背光串扰率为：Ipd41/Ipd44、Ipd42/Ipd44、Ipd43/Ipd44。

9)上述的背光电流均上传至PC机1中，选取上述的12个背光串扰率中的最大值与预设标准对比，小于预设标准即判为通过，大于等于预设标准则判为失效。

以上实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本发明的保护范围不限于上述的实施例。上述实施例中所用方法如无特别说明均为常规方法。