现场测试参考值计算方法、系统、设备及存储介质

摘要

本发明公开了一种现场测试参考值计算方法、系统、设备及存储介质，相关方法包括：建立拟合模型对现场信号进行拟合，并构建出具有正交性的拟合参数矩阵；分析不同求解方法的复杂度，以及不同窗长和拟合阶数对测量精度和计算时间的影响，选取复杂度最低的求解方法以及最优窗长和拟合阶数，对所述具有正交性的拟合参数矩阵进行分解，迭代求解出待定拟合的参数矩阵；利用获得的所述待定拟合的参数矩阵计算现场测试参考值。使用本发明提供的以上方案，可以准确计算参考值，精度高于标准要求10倍以上，从而在PMU现场测试校准时提供准确的参考值；并且，计算效率较高，可大幅减轻硬件计算负担。