首页> 中国专利> 一种拉盖尔高斯光束高阶拓扑荷数的测量装置及测量方法

一种拉盖尔高斯光束高阶拓扑荷数的测量装置及测量方法

摘要

本发明公开了一种拉盖尔高斯光束高阶拓扑荷数的测量装置及方法,激光器发出光束,经过分束器透射到达空间光调制器,生成待测的拉盖尔高斯光束,该光束经过分束器后分为透射拉盖尔高斯光束和反射拉盖尔高斯光束,透射拉盖尔高斯光束经过分束器反射后由平面镜反射作为拉盖尔高斯光束的镜像光束照在分束器上,而经分束器透射的拉盖尔高斯光束经正三角孔衍射进入CCD相机成像;反射拉盖尔高斯光束经反射镜后作为拉盖尔高斯光束照到分束器上;拉盖尔高斯光束与其镜像光束经分束器干涉叠加;干涉叠加的光强进入CCD相机成像,通过对采集的干涉强度图和衍射强度图进行分析从而获得涡旋光拓扑荷数的大小和符号。

著录项

  • 公开/公告号CN114720001A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-07-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 合肥工业大学;

    申请/专利号CN202210306651.8

  • 申请日2022-03-25

  • 分类号G01J9/02;

  • 代理机构北京科名专利代理有限公司;

  • 代理人陈朝阳

  • 地址 230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号

  • 入库时间 2023-06-19 15:57:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-08

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号