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一种波片相位延迟量和快轴方向的测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种波片相位延迟量和快轴方向的测量装置及方法,该装置由He‑Ne激光器、分束器、空间光调制器、线起偏器、道威棱镜、反射镜、CCD相机和计算机组成,并基于马赫曾德尔干涉原理进行搭建。本发明利用拉盖尔高斯光束干涉对光程差进行绝对测量,将待测波片放置与反射镜和分束器之间的光路中,首先记录待测波片其中一个主轴与线起偏器透光轴平行时的拉盖尔高斯光束干涉图,旋转待测波片,然后记录待测波片另一个主轴与线起偏器透光轴平行时的拉盖尔高斯光束干涉图,通过测量旋转待测波片前后的拉盖尔高斯光束干涉图的旋转角度以及旋转方向,可以准确测量波片真正的相位延迟量和快轴方向,测量精度高,结构简单且紧凑,操作简单。

著录项

  • 公开/公告号CN114720095A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-07-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 合肥工业大学;

    申请/专利号CN202210331925.9

  • 申请日2022-03-30

  • 分类号G01M11/02;

  • 代理机构北京科名专利代理有限公司;

  • 代理人陈朝阳

  • 地址 230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号

  • 入库时间 2023-06-19 15:57:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-08

    公开

    发明专利申请公布

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