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基于热辐射探测器的测温方法、装置及热辐射探测器

摘要

一种基于辐射探测器(11)的测温方法、装置(12)及热辐射探器(11)。该方法包括:获取快门(32A)处于打开状态时热辐射探测器(11)采集到的探测图像(40);热辐射探测器(11)包括快门(32A)和光敏元阵列(31),快门(32A)处于打开状态时,光敏元阵列(31)被热辐射探测器(11)的预设元件(32)部分遮挡,以使得光敏元阵列(31)包括处于遮挡区域(31A)中的光敏元和处于非遮挡区域(31B)中的光敏元,处于非遮挡区域(31B)中的光敏元能够接收来自目标对象的热辐射;探测图像(40)包括对应于遮挡区域(31A)的第一图像区域(41)和对应于非遮挡区域(31B)的第二图像区域(42)(21);参考第一图像区域(41)中的像素值,并根据第二图像区域(42)中的像素值(A1‑A10),确定目标对象的温度(22)。该方法能够减少开关快门(32A)的次数,解决开关快门(32A)过于频繁的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN114616445A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市大疆创新科技有限公司;

    申请/专利号CN202080074055.0

  • 申请日2020-12-30

  • 分类号G01J5/00;G01J5/08;G01J5/48;

  • 代理机构北京太合九思知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘戈

  • 地址 518057 广东省深圳市南山区高新南区粤兴一道9号香港科大深圳产学研大楼6楼

  • 入库时间 2023-06-19 15:36:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-10

    公开

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