首页> 中国专利> 电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质

电磁环境分析系统、电磁环境分析方法、及存储介质

摘要

在本发明的电磁环境分析系统中,图像制作部在与各测定值的测定位置相对应的位置制作显示测定值相关的信息的图像。设定多个区划。区划判定部基于上述位置信息,判定在上述图像中形成与测定值相关的信息的显示范围的多个区划中的与各测定值的测定位置对应的区划。显示信息确定部基于与区划对应的测定值确定区划的显示相关的信息。显示信息确定部当在相互不同的时刻测定到的两个以上的测定值与一个区划对应时,根据两个以上的测定值运算代表值,并基于代表值确定在区划中显示的信息。

著录项

  • 公开/公告号CN114545096A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TDK株式会社;

    申请/专利号CN202111357171.6

  • 发明设计人 佐藤俊弥;林达也;

    申请日2021-11-16

  • 分类号G01R29/08;

  • 代理机构北京尚诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨琦

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-06-19 15:27:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-27

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号