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散射介质光学传输矩阵的测量方法

摘要

本发明涉及一种散射介质光学传输矩阵的测量方法,该方法包括:将入射光束的水平偏振分量和垂直偏振分量分别作为信号光束和参考光束经过半波片入射散射介质;旋转半波片调制信号光束和参考光束的比例,消除参考光束的影响,检索散射介质光学传输矩阵的最优解。上述散射介质光学传输矩阵的测量方法,在测量散射介质光学传输矩阵时具有明显的增强效果,将入射光束的水平偏振分量和垂直偏振分量分别作为信号光束和参考光束,采用共路传播全场相移干涉法在测量光学传输矩阵时可以完全消除参考光束的影响,在测量光学传输矩阵时检索效率更高,样本需求更低,信号光束和参考光束共路传输,可以降低系统误差。

著录项

  • 公开/公告号CN114460045A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN202210127594.7

  • 发明设计人 詹其文;胡海峰;高涵;

    申请日2022-02-11

  • 分类号G01N21/47;G01M11/02;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2023-06-19 15:15:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-10

    公开

    发明专利申请公布

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