薄膜电路外观检测设备和薄膜电路外观检测结构

摘要

本发明提供薄膜电路外观检测设备和薄膜电路外观检测结构，薄膜电路外观检测装置包括底座、面板、负压装置、光源和外观检测机构；底座设置有第一安装槽；面板设置于底座上方，并与第一安装槽围合形成一密闭腔体；面板包括透光面板以及环状设置于透光面板边缘外的真空面板；真空面板贯穿开设有若干吸附孔，若干吸附孔沿真空面板周向排布，且每一吸附孔均与密闭腔体相连通；负压装置与密闭腔体相连通；光源以及外观检测机构分别设置于透光面板的两侧；薄膜电路置于面板远离底座的一面，并盖设于吸附孔的上方。薄膜电路可被平整展开，且光源可为薄膜电路补光，外观检测机构可得到更清晰的图像。