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一种单像素成像的信号检验方法

摘要

本申请公开了一种单像素成像的信号检验方法,包括:单像素探测器根据被探测物体的大小设计采样矩阵并进行采样;将采样矩阵分成多组,每组包含C个采样矩阵,将每组的C个采样矩阵按照r行列的方式进行排列,针对每组的C个采样矩阵,对每一行的采样矩阵进行整合得到子矩阵,对每一列的采样矩阵进行整合得到子矩阵,并通过计算子矩阵和子矩阵各自的检验矩阵或投影矩阵来判断具体产生错误信号的采样矩阵所在位置,以实现在信号采集过程的检验。

著录项

  • 公开/公告号CN114449258A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京工程学院;

    申请/专利号CN202210091027.0

  • 申请日2022-01-26

  • 分类号H04N17/00;H04N9/67;H04N9/31;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 211167 江苏省南京市江宁区科技园弘景大道1号

  • 入库时间 2023-06-19 15:10:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-06

    公开

    发明专利申请公布

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