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基于贝塞尔函数分段积分的集成电路电磁仿真方法及系统

摘要

本申请公开了基于贝塞尔函数分段积分的集成电路电磁仿真方法及系统,该方法先基于零点对积分区间进行初始分段,并对每两个零点之间的初始子区间进行数值积分并进行积分累加,得到初始的贝塞尔函数积分值,之后在每两个零点的中间位置增设分段点并进行区间细分,对包括零点的当前分段点中每两个点之间的细分子区间进行数值积分并进行积分累加,得到积分区间在当前细分情况下的贝塞尔函数积分值,然后判断其与前一次累加得到的积分之间的误差是否小于预设的第一误差精度,若是则将当前的积分值作为积分结果,否则在每两个相邻的当前分段点中间位置增设新分段点并重新进行数值积分和积分累加,直到满足第一误差精度。该方法降低了积分的时间成本。

著录项

  • 公开/公告号CN114417769A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京智芯仿真科技有限公司;

    申请/专利号CN202210052753.1

  • 发明设计人 王芬;

    申请日2022-01-18

  • 分类号G06F30/39;G06F111/10;

  • 代理机构北京星通盈泰知识产权代理有限公司;

  • 代理人李筱

  • 地址 100084 北京市海淀区农大南路1号院5号楼306室

  • 入库时间 2023-06-19 15:07:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F30/39 专利申请号:2022100527531 申请日:20220118

    实质审查的生效

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