平均材料去除率预测方法、装置、电子设备和存储介质

摘要

本发明公开一种平均材料去除率预测方法、装置、电子设备和存储介质。其中，方法包括获取模型训练集；对所述模型训练集进行归一化处理；对归一化处理后的所述训练集中的每个样本进行特征提取；根据提取后的特征利用高斯过程回归进行建模；利用建模后的模型对测试样本进行预测，获得所述测试样本的平均材料去除率预测值。采用本发明提供的方案无需从过程变量中提取相应的统计量特征进行建模，可保证模型的预测精度。本发明利用高斯过程回归进行建模，还能给出预测结果的置信区间，可辅助用户决策。