首页> 中国专利> 基于空洞卷积的Unet+++的绝缘子闪络故障识别方法、装置、介质及设备

基于空洞卷积的Unet+++的绝缘子闪络故障识别方法、装置、介质及设备

摘要

本发明公开了一种基于空洞卷积的Unet+++的绝缘子闪络故障识别方法,包括:获取待识别的绝缘子图像,根据所述绝缘子图像得到亮光图像标签图以及绝缘子图像标签图;基于空洞卷积的Unet+++对所述亮光图像标签图进行分割,生成亮光分割图;根据所述绝缘子标签图提取绝缘子位置;根据所述绝缘子位置对应到所述亮光分割图上的亮光位置,计算亮光位置上的白色像素面积比例;根据所述白色像素面积比例定位绝缘子闪络故障。本发明解决了现有技术在进行绝缘子闪络故障识别时存在速度和精度欠佳的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN114255216A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202111525403.4

  • 申请日2021-12-14

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/11(20170101);G06T7/62(20170101);G06T7/73(20170101);G06T9/00(20060101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);

  • 代理机构44511 广州国鹏知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人葛红

  • 地址 510530 广东省广州市黄埔区科学城开创大道2819号六楼

  • 入库时间 2023-06-19 14:42:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-29

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号