一种LVDT位移传感器的测试与分析装置

摘要

本发明公开了一种LVDT位移传感器的测试与分析装置，包括：位移量标定与微调装置，用于对不同形状和大小的位移传感器进行夹持、位移量固定和位移量微调；工作原理分析装置，用于获取位移传感器信号处理电路的输入输出映射关系，进而分析其工作原理；传导敏感性测试与分析装置，用于对位移传感器进行注入传导敏感性测试和初级线圈谐波激励测试及相应的分析；磁场辐射敏感性测试与分析装置，用于对位移传感器进行磁场辐射敏感性测试与分析。通过本发明的技术方案，能够适应性地对各种形状和大小的LVDT位移传感器进行系统性的电磁敏感性测试与分析。