参数影响程度分析方法、装置、电子设备和存储介质

摘要

本申请涉及一种参数影响程度分析方法、装置、电子设备和存储介质，应用于数据分析技术领域，其中，方法包括：获取待分析参数和待分析平台信息；根据预先构建的知识图谱，确定待分析参数与待分析平台信息形成的目标知识关系链；知识图谱为包含参数与平台信息对应关系的知识图谱，目标知识关系链指示待分析参数与待分析平台信息在知识图谱中的关系；根据知识图谱，获取目标知识关系链中的每个相邻实体间的关联关系；根据每个关联关系，确定待分析参数对待分析平台的影响程度。以解决现有技术中，根据经验值进行设置来分析影响因素对推荐平台的影响，但是得到的分析结果主观因素较强，准确性不高的问题。