首页> 中国专利> 一种生成KeyNet亚像素级特征点的局部梯度拟合方法

一种生成KeyNet亚像素级特征点的局部梯度拟合方法

摘要

一种生成KeyNet亚像素级特征点的局部梯度拟合方法,属于图像处理领域,利用KeyNet网络,在每个尺度平面内检测输入图像的所有像素级精度特征点,生成各尺度平面的响应强度图;对于每个像素级精度特征点,计算该特征点及其相邻八个点响应强度之间的梯度关系,拟合出该特征点的亚像素级坐标,从而将KeyNet特征点的定位精度由像素级提升至亚像素级。本发明的亚像素级最高误差为0.030个像素,平均误差为0.019个像素。对于SIFT算法仅检测到3对正确匹配点对的图像匹配任务,本发明能检测到41对正确的匹配点。本发明对SIFT算法难以匹配的低质量航拍图像进行匹配,显著提升图像匹配性能。

著录项

  • 公开/公告号CN114187358A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN202111515423.3

  • 发明设计人 林秋华;冯浩臻;

    申请日2021-12-13

  • 分类号G06T7/73(20170101);G06V10/74(20220101);

  • 代理机构21102 辽宁鸿文知识产权代理有限公司;

  • 代理人王海波

  • 地址 116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

  • 入库时间 2023-06-19 14:31:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-15

    公开

    发明专利申请公布

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号