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玉米株型参数测量方法、系统、装置及存储介质

摘要

本发明公开一种玉米株型参数测量方法及系统,方法包括以下步骤:获取玉米植株侧视的图像,将图像进行预分割处理及玉米植株茎秆的矫正处理,得到矫正二值图;对矫正二值图分别进行整体分析和骨架分析,得到玉米植株的整体参数和玉米植株路径;基于矫正二值图和叶片路径确定玉米植株中每个叶片的与茎秆连接处的点及叶片与茎秆的夹角三点,得到玉米植株的叶片参数和茎秆参数,所述茎秆参数包括节间距和茎秆的粗细程度。本发明基于图像技术代替传统手工测量过程对玉米株型指标进行系统化测量,能够一次性获得从整体和局部角度评价株型的多种独立参数,为从不同角度评价玉米株型提供一种高效、便携、准确的手段。

著录项

  • 公开/公告号CN114170148A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江托普云农科技股份有限公司;

    申请/专利号CN202111354251.6

  • 发明设计人 朱旭华;陈渝阳;刘荣利;赵飞;

    申请日2021-11-12

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/11(20170101);G06T7/13(20170101);G06T7/168(20170101);G06T7/60(20170101);G06T7/62(20170101);

  • 代理机构33260 杭州五洲普华专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人徐晶晶

  • 地址 310000 浙江省杭州市拱墅区祥园路88号3幢1101室

  • 入库时间 2023-06-19 14:28:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-11

    公开

    发明专利申请公布

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