用于改善共模抑制比的方法和设备及包括这种设备的系统

摘要

本公开涉及用于改善共模抑制比的方法和设备及包括这种设备的系统。共模电压的变化可会对差分采样电路产生不利影响。共模电压的变化可能会改变晶体管开关的导通电阻，而这可意味着对较大的共模信号没有正确地观察到小的信号变化。本公开涉及通过改变对部件的供电或驱动电压来补偿共模电压变化来提高解决小的差分信号变化的能力的方法。