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一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准方法

摘要

本发明公开了一种太赫兹探测器绝对光谱响应校准方法,黑体辐射源发出的辐射光经过光阑孔对光斑进行限制,通过太赫兹窄带滤波片轮后将产生单色的太赫兹光,再次经过光阑孔后,单色太赫兹光照射到太赫兹探测器或太赫兹功率计上,太赫兹探测器和太赫兹功率计被固定在位移台上,测量时通过控制器旋转滤波片轮,产生某一单色太赫兹光,照射到太赫兹探测器上,通过数据采集系统采集信号,再经过位移台将太赫兹功率计移动到相同位置处测量得到该波长的辐射功率,通过绝对响应率计算公式计算得到某一波长的绝对响应率,通过控制器旋转滤波片轮将得到整个光谱范围内的绝对光谱响应。本发明性能稳定、结构紧凑、使用方便,测试准确度高。

著录项

  • 公开/公告号CN111947781A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010780076.6

  • 申请日2020-08-05

  • 分类号G01J3/28(20060101);

  • 代理机构11340 北京天奇智新知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈岚崴

  • 地址 266000 山东省青岛市黄岛区香江路98号

  • 入库时间 2023-06-19 08:56:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-08-11

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01J 3/28 专利申请号:2020107800766 申请公布日:20201117

    发明专利申请公布后的驳回

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