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一种闪存错误页比例评估模型及方法

摘要

本发明公开了一种闪存错误页比例评估模型及方法。闪存错误页比例可为闪存存储系统性能和功耗优化提供基础,但直接获取错误页比例时需要巨大的时间和空间开销,难以直接评估,而闪存的编程/擦除周期、数据保存时间获取十分方便。因此本发明通过对闪存进行测试获取在不同闪存编程/擦除周期、数据保存时间下的错误页比例相关数据,建立闪存错误页比例与编程/擦除周期、数据保存时间关联关系模型,最终用闪存编程/擦除周期和数据保存时间来快速估计错误页比例的模型。本发明对闪存存储系统的性能提升、功耗降低及相关工业应用具有重大意义。

著录项

  • 公开/公告号CN111863117A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海威固信息技术股份有限公司;

    申请/专利号CN202010650477.X

  • 发明设计人 吴佳;余云;苗诗君;李礼;刘碧贞;

    申请日2020-07-08

  • 分类号G11C29/56(20060101);

  • 代理机构31301 上海海贝律师事务所;

  • 代理人王文锋

  • 地址 201702 上海市青浦区高泾路599号1幢2层208室

  • 入库时间 2023-06-19 08:44:14

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