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一种超薄量子阱结构AlGaN日盲紫外探测器及其制备方法

摘要

本发明提供了一种超薄量子阱结构AlGaN日盲紫外探测器,属于紫外探测技术领域,包括衬底,在所述衬底上依次生长低Al组分的n型AlGaN层、高Al组分的n型AlGaN层、周期性AlxGa1‑xN/AlN超薄量子阱层、p型AlGaN层和p型GaN层;还包括n型电极和p型电极。本发明还提供了上述超薄量子阱结构AlGaN日盲紫外探测器的制备方法。本发明的超薄量子阱结构AlGaN日盲紫外探测器,利用超薄多量子阱结构作为器件的吸收工作区,避免了AlGaN材料生长质量差以及禁带宽度随温度变化等问题;在n型AlGaN区生长不同Al组分的异质结构,利用异质结产生的极化电场增强器件对光生载流子的输运能力,提高器件综合性能;器件结构简单、制备方法工艺也简单、应用前景广泛。

著录项

  • 公开/公告号CN111785797A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010800822.3

  • 申请日2020-08-11

  • 分类号H01L31/0352(20060101);H01L31/0304(20060101);H01L31/101(20060101);H01L31/18(20060101);

  • 代理机构44316 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人曹卫良

  • 地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

  • 入库时间 2023-06-19 08:36:28

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