首页> 中国专利> 一种超短脉冲激光能量测量方法及系统

一种超短脉冲激光能量测量方法及系统

摘要

本发明涉及一种超短脉冲激光能量测量方法及系统。所述方法包括确定待测超短超强激光的光斑;根据所述光斑确定辐射变色膜的尺寸;获取所述辐射变色膜的初始的空间二维分布的光密度值;利用所述待测超短超强激光对所述辐射变色膜进行曝光;获取曝光后的辐射变色膜的曝光后的空间二维分布的光密度值;利用所述初始的空间二维分布的光密度值和所述曝光后的空间二维分布的光密度值确定所述辐射变色膜曝光前后的净光密度值;对所述净光密度值进行标定,得到标定的拟合曲线;利用所述标定的拟合曲线确定照射到辐射变色膜上的所述待测超短超强激光的能量。本发明不仅能够测量输出的超短脉冲激光总能量,还能够测量超短脉冲激光能量的空间分布。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号