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相移空白掩膜及其制造方法

摘要

根据本公开的相移空白掩膜包括具有多层膜结构的相移膜,该多层膜结构包括位于透明衬底上的两层或更多层,其中相移膜仅含有硅(Si),或者含有硅(Si)化合物而基本上不含过渡金属。根据本公开的相移膜由不含过渡金属的硅(Si)基材料制成,由此提供了这样的空白掩膜和光掩膜,其耐曝光光线的耐曝光性和耐化学品清洁的耐化学品性优异,能够精确地控制图案的CD,并延长了光掩膜的使用寿命。

著录项

  • 公开/公告号CN108957941A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 思而施技术株式会社;

    申请/专利号CN201810477224.X

  • 申请日2018-05-18

  • 分类号G03F1/26(20120101);

  • 代理机构11112 北京天昊联合知识产权代理有限公司;

  • 代理人樊晓焕;金小芳

  • 地址 韩国大邱广域市

  • 入库时间 2023-06-19 07:32:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F1/26 申请日:20180518

    实质审查的生效

  • 2018-12-07

    公开

    公开

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