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NANDflash存储设备的测试系统

摘要

本发明实施例公开了一种NAND flash存储设备的测试系统。所述NAND flash存储设备的测试系统包括上位机、测试板和待测存储设备,其中,所述上位机通过串口与所述测试板连接,所述测试板还通过特定接口与待测存储设备连接。本发明实施例通过将符合预设要求的测试命令保存到测试文件中,使待检测存储设备重现同样问题时,可以直接调用已有的测试命令快速实现。不仅实现了自动化测试,而且为问题重现提供了可能。

著录项

  • 公开/公告号CN108614755A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京京存技术有限公司;

    申请/专利号CN201611130015.5

  • 发明设计人 陈诚;

    申请日2016-12-09

  • 分类号G06F11/263(20060101);

  • 代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人孟金喆;胡彬

  • 地址 100176 北京市大兴区经济技术开发区景园北街2号52幢202室

  • 入库时间 2023-06-19 06:40:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F11/263 申请日:20161209

    实质审查的生效

  • 2018-10-02

    公开

    公开

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