地线与预绞丝接触端口接触电阻的电桥实验测量方法

摘要

本发明公开了一种地线与预绞丝接触端口接触电阻的电桥实验测量方法，首先除去地线与预绞丝接触端口表面的氧化膜；利用编制软铜线缠绕接触端口两侧的地线和预绞丝一圈；采用直流电桥进行测量前，对电桥进行校零和调节回路电势平衡；对被测对象进行正反电流两次测量，测量组数不少于三组，最终将多组数据取平均即为所要测量的地线与预绞丝接触端口的接触电阻。本发明方法采用的直流电桥的测量方法，在不考虑集肤效应的情况下，通过特定的设置仍可以准确测量接触端口的接触电阻，具有普遍推广使用的意义。

说明书

技术领域

本发明涉及接触电阻的实验测量技术领域，特别涉及一种地线与预绞丝接触端口接触电阻的电桥实验测量方法。

背景技术

当雷击等因素导致杆塔闪络时，工频短路电流从杆塔流入地线，在地线悬垂串中地线与预绞丝接触端口处因集肤效应作用导致电流扩散，接触端口的接触电阻产生热效应，最终导致温度过高甚至引发断线事故。即工频短路电流和接触电阻的共同作用是导致接触端口发热严重甚至断线的主要原因。因此，有必要对地线与预绞丝接触端口的暂态温升情况进行分析研究。其中，接触电阻作为其中的主要热源，能否得到其准确的测量数据是研究分析暂态温升特性的基础。

现有对接触电阻的实验测量方法中，采用直流电桥进行测量是主要方式之一。然而针对地线与预绞丝接触端口的接触电阻，若直接采用直流电桥进行测量将会忽略集肤效应的影响，从而对测量结果造成较大的误差。因此，为了克服直流电桥直接测量所带来的限制，提供一种基于直流电桥的地线与预绞丝接触端口接触电阻的实验测量方法。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺点与不足，提供一种地线与预绞丝接触端口接触电阻的电桥实验测量方法，采用的直流电桥的测量方法，在不考虑集肤效应的情况下，通过特定的设置仍可以准确测量接触端口的接触电阻，具有普遍推广使用的意义。

本发明的目的通过以下的技术方案实现：一种地线与预绞丝接触端口接触电阻的电桥实验测量方法，包括以下步骤：

S1、将除去地线与预绞丝接触端口两侧表面的氧化膜；

S2、利用编制软铜线缠绕接触端口两侧的地线和预绞丝一圈，将直流电桥的电流与电压同一端的接线端子与被测线段的编制软铜线相连接；

S3、采用直流电桥进行测量前，对电桥进行校零和调节回路电势平衡；

S4、对被测对象进行正反电流两次测量，测量多组，最终将多组数据取平均即为所要测量的地线与预绞丝接触端口的接触电阻。

优选的，步骤S1将地线与预绞丝接触端口两侧用砂纸打磨，除去表面的氧化膜。

优选的，步骤S2编制软铜线缠绕在地线和预绞丝的位置紧邻接触端口。

优选的，步骤S2编制软铜线与地线和预绞丝之间压力在一定阈值之上，以此减小测量时的接触电阻。

优选的，采用直流电桥进行测量时，两侧的测量点位置紧邻接触端口。

优选的，采用直流数字式电桥PC36C进行测量。

具体的，对电桥进行校零：首先打开仪器预热3-5分钟，预热后将功能开关拨至“校零”档位，通过调节平衡旋钮使显示屏上的值稳定在0数值。

具体的，对电桥进行调节回路电势平衡：将功能开关拨至“平衡”档位，同样通过调节平衡旋钮使显示屏上的值稳定在“+0”至“-0”数值。

优选的，测量回路电势平衡操作后不再重复进行校零操作。

优选的，步骤S4中测量组数不少于三组。

本发明与现有技术相比，具有如下优点和有益效果：

地线与预绞丝接触端口接触电阻的电桥实验测量方法，通过控制接触端口两侧测量点位置，进而控制直流电桥中注入电流的流向，使之与交流电流产生相同的效果，从而测量得到准确可靠的接触端口接触电阻。相比较于交流的测量方式，测量数据较少，同时可以避免了磁干扰，尤其对于这种基于电流扩散或者收缩情况下的接触电阻测量，具有普遍推广使用的意义。

附图说明

图1为实施例测量方法步骤流程图。

图2为实施例测量部位示意图。

图3为实施例沿轴向截面的布置示意图。

具体实施方式

下面结合实施例及附图对本发明作进一步详细的描述，但本发明的实施方式不限于此。

实施例1

一种基于直流电桥的地线与预绞丝接触端口接触电阻的实验测量方法，流程图如图1所示，主要包括以下几个步骤：

S1，首先将地线与预绞丝接触端口两侧用砂纸打磨，除去表面的氧化膜；

S2，利用编制软铜线缠绕接触端口两侧的地线和预绞丝一圈，避免测量电流注入时过于集中；将直流电桥的电流与电压同一端的接线端子与被测线段的编制软铜线相连接；

S3，采用直流电桥进行测量前，对电桥进行校零和调节回路电势平衡；

S4，对被测对象进行正反电流两次测量，测量组数不少于三组，最终将多组数据取平均即为所要测量的地线与预绞丝接触端口的接触电阻。

对于步骤S1，作为一个实施例，具体地，利用砂纸除去地线与预绞丝接触端口两侧外表面的氧化膜，直至地线和预绞丝外表面呈现出亮灰色，避免测量回路中两侧被测线段与测量仪器连接部位的接触电阻的影响导致测量结果增大。

对于步骤S2，作为一个实施例，具体地，编制软铜线缠绕在地线和预绞丝的位置如图2所示，两侧的编制软铜线应尽可能靠近接触端口，避免地线和预绞丝的导体电阻对测量结果产生较大的影响。

在步骤2中，应当注意保证编制软铜线与地线和预绞丝之间有足够的压力，防止两者之间的接触电阻较大从而导致测量结果偏大。

地线与预绞丝接触端口的电流是在集肤效应的作用下才能产生明显的扩散现象，因此，采用直流电桥进行测量时通过控制测量点的位置(保证两侧的测量点位置尽快靠近接触端口)进而控制直流电流的流向，使之与交流电流产生相同的效果，由此必须保证两侧的测量点位置应尽可能靠近接触端口。一般测量时，测量点的位置视具体测量对象而定，对测量点位置没有统一的规定。此处因为直流电流在接触端口的电流分布与交流电流的分布不一致，只能通过控制测量点的位置尽可能靠近接触端口，才可以保证用直流电流测出的结果与交流下的结果一致。

对于步骤S3，作为一个实施例，具体地，在进行接触端口接触电阻的测量之前，首先将测量仪器与被测线段连接，形成闭合回路，如图3所示。采用直流数字式电桥(PC36C)进行测量，将直流电桥的电流与电压接线端子接入被测线段中。进行测量之前需对电桥进行校零和调节回路电势平衡。校零主要是仪表内部校零。调节回路电势平衡的目的则是抵消外部电势(主要是热电势)的影响。

对所述直流电桥进行校零：首先打开仪器预热3-5分钟，预热后将功能开关拨至“校零”档位，通过调节平衡旋钮使显示屏上的值稳定在0数值。

对所述直流电桥进行调节回路电势平衡，其目的主要是抵消外部电势的影响。步骤包括：将功能开关拨至“平衡”档位，同样通过调节平衡旋钮使显示屏上的值稳定在“+0”至“-0”数值。测量回路电势平衡操作后不应再重复进行校零操作。

对于步骤S4，作为一个实施例，具体地，对测量部位进行多组实验，每一组实验测量均进行正反电流两次测量，最终将多组数据取平均值，即是所需求得到的接触端口接触电阻值：

综上所述，基于直流电桥的地线与预绞丝接触端口接触电阻的实验测量方法，通过控制测量点位置进而控制直流电流的流向，使之与实际交流电流产生相同的效果，从而克服直流电桥难以测量地线与预绞丝接触端口接触电阻的困难，同时可以避免了交流电情况下的磁干扰，尤其对于这种基于电流扩散或者收缩情况下的接触电阻测量，具有普遍推广使用的意义。

上述实施例为本发明较佳的实施方式，但本发明的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本发明的保护范围之内。