一种获得正确Mura补偿数据的方法及系统

摘要

本发明公开了一种获得正确Mura补偿数据的系统，包括第一电路板、第二电路板、第三电路板、切换板以及上位机，其中：第一电路板连接液晶面板，其设置有第一存储器；第三电路板用于从上位机获得测试灰阶图像数据；第二电路板上设置有时序控制器，用于接收测试灰阶图像数据和当前Mura补偿数据以获得取修正后的测试图像数据，并输出至液晶面板进行显示；切换板包含有CPLD芯片模块以及临时存储当前Mura补偿数据的第二存储器；上位机用于向切换板和第三电路板发送命令以控制对当前Mura补偿数据进行在线检测。本发明还公开了相应的方法。本发明可以实现在线对当前Mura补偿数据进行检测，且能提高检测精度和效率，并能减少对第一存储器的烧录次数。

说明书

技术领域

本发明涉及显示领域，特别涉及一种获得正确Mura补偿数据的方法及系统。

背景技术

由于液晶显示器（Liquid Crystal Display，LCD）制程上的瑕疵，经常会导致生产出来的液晶显示器的液晶面板（Panel）亮度不均匀，形成各种各样的Mura（Mura是指显示器亮度不均匀，造成各种痕迹的现象）。为了提升液晶面板亮度的均匀性，可以通过相机拍摄出3〜5个灰阶画面（不同亮度的纯白画面）的Mura形态，通过对比面板中心位置的亮度，计算出四周区域与中心位置亮度的差异从而获得Mura补偿数据（灰阶数据）。其中，比中心位置亮的区域，降低灰阶数据，以降低亮度；比中心位置暗的区域，提高灰阶数据，以提高亮度。然后，由数据烧录器将Mura补偿数据烧录至液晶面板的存储器中。接着，当液晶显示器上电后，时序控制器（TCON）会从存储器中读取Mura补偿数据，并与输入的原始灰阶图像数据进行运算后在液晶面板上显示经Mura补偿之后亮度一致的画面。

在实际应用中，Mura补偿数据烧录到存储器中后会一直保存，TCON每次上电后都会读取Mura补偿数据并进行Mura补偿。此时，若补偿后的画面仍有异常，则会初步认为该Mura补偿数据不正确。但是现有的技术上，上述的确定过程一般通过人工的观察来确定，例如，通过人眼观察经补偿后的面板在纯灰阶（如在灰阶60）下的效果，如果观察到亮度存在不均匀现象，则认为当前的Mura补偿数据不正确。但是这种人工判断的方式也不够精准，同时，为获得准确的Mura补偿数据，很多时候需要多次替换新的Mura补偿数据来进行验证，从而需要多次烧录存储器，效率十分低下。而且需要重复地烧录存储器的工作，从而使得整个解析过程过于复杂。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，本发明公开了获得正确Mura补偿数据的方法及系统，可以实现在线对当前Mura补偿数据进行检测，且能提高检测精度和效率，并能减少对第一存储器的烧录次数。

为了解决上述技术问题，本发明的实施例的一方面提供一种获得正确Mura补偿数据的系统，其特征在于，所述系统包括第一电路板、第二电路板、第三电路板、切换板以及上位机，所述第一电路板与液晶显示器的液晶面板连接，所述第一电路板、所述第二电路板分别通过切换板和上位机相连接，所述第二电路板与所述第一电路板相连接，所述第三电路板和上位机相连接；

所述切换板，用于在接收到来自上位机的控制信号后，从所述控制信号中解析出当前Mura补偿数据或正确的Mura补偿数据，并用于根据所述控制信号在第二电路板与切换板的第二存储器之间建立连接，或在第二电路与所述第一电路板之间建立连接；

所述第三电路板，用于在接收来自上位机的控制信号后，从所述控制信号中获得多组与所述当前Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据，并输送给所述第二电路板；

所述第二电路板，其上设置有时序控制器，所述时序控制器用于接收所述测试灰阶图像数据，并与从所述切换板上获得的当前Mura补偿数据进行计算处理，以获得取修正后的测试图像数据，并将所述修正后的测试图像数据通过第一电路板输出至所述液晶面板进行显示；

所述上位机，用于产生当前Mura补偿数据以及与所述当前Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据，并向切换板和第三电路板发送控制信号；以及用于获得液晶面板上显示的修正后测试图像对应的显示图像的灰度数据，并通过解析所述灰度数据以确定当前Mura补偿数据是否正确，从而获得正确的Mura补偿数据；并用于将正确的Mura补偿数据通过所述切换板发送给所述第一电路板；

所述第一电路板上设置有第一存储器，所述第一存储器用于从所述切换板获得来自上位机的正确的Mura补偿数据，并存储。

其中，所述系统还包括转换板，所述转换板设置于所述上位机与所述切换板之间，且与所述第三电路板相连接，所述转换板用于将来自上位机的控制信号转换成IIC信号或SPI信号，其中，所述SPI信号被输送至所述切换板，所述IIC信号被输送至所述第三电路板，所述SPI信号包括烧录第一存储器指令和检测Mura补偿数据指令。

其中，所述切换板包含有CPLD芯片模块以及第二存储器，所述第二存储器用于临时存储来自上位机的控制信号中的当前Mura补偿数据，所述CPLD芯片模块用于切换所述第二电路板与所述第一存储器或所述第二存储器之间的连接。

其中，所述CPLD芯片模块进一步包括SPI解析模块和SPI接口转换模块，其中：

所述SPI解析模块用于解析来自转换板的SPI信号，当解析到所述SPI信号为烧录第一存储器指令时，将SPI信号所包含的Mura补偿数据作为正确的Mura补偿数据烧录到第一存储器；当解析到所述SPI信号为检测Mura补偿数据指令时，将SPI信号中所包含的Mura补偿数据作为当前Mura补偿数据烧录到第二存储器中，并将所述第二电路板与所述第二存储器建立SPI连接；

所述SPI接口转换模块用于将所述SPI解析模块所解析出来的信号写入所述第一存储器或第二存储器；或者用于从所述第一存储器或第二存储器中读取数据。

其中，所述上位机通过下述方式获得正确的Mura补偿数据：

生成多组与当前Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据；

并对每一组测试灰阶图像数据经当前Mura补偿数据修正后并在液晶面板上显示的图像进行灰度处理以及直方图统计；

根据所述直方图统计确定显示图像数据的画面亮度是否均匀，以确定当前Mura补偿数据是否正确，当画面亮度均匀时，将当前Mura补偿数据确定为正确的Mura补偿数；否则，确定当前Mura补偿数据不正确，重新生成新的当前Mura补偿数据发送给切换板，并生成与所述新的当前Mura补偿数据相对应的测试灰阶图像数据发送给第三电路板，继续对新的当前Mura补偿数据进行检测，直至最后获得正确的当前Mura补偿数据。

相应地，本发明实施例还包括一种获得正确Mura补偿数据的方法，应用于前述的获得正确Mura补偿数据的系统中，其包括如下步骤：

切换板接收来自上位机的控制信号，并在解析其为检测Mura补偿数据指令时，将所述指令中包含的当前Mura补偿数据进行存储，并与所述第二电路板建立连接；

第三电路板接收来自上位机的控制信号，从中获得多组与当前Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据，并输送给所述第二电路板；

第二电路板从所述切换板中获得所述当前Mura补偿数据，并从所述第三电路板中获得所述测试灰阶图像数据，依次将每一组测试灰阶图像数据与所述当前Mura补偿数据进行处理，获得对应的修正后的测试图像数据，并经第一电路板输出到液晶面板上；

所述上位机获得液晶面板上显示的修正后测试图像数据对应的显示图像的灰度数据，并通过解析所述灰度数据以确定当前Mura补偿数据是否正确，从而获得正确的Mura补偿数据。

其中，进一步包括：

转换板将来自上位机的控制信号转换成IIC信号或SPI信号，并将所述SPI信号输送给所述切换板，或将所述IIC信号被输送至所述第三电路板；其中，所述SPI信号包括烧录第一存储器指令和检测Mura补偿数据指令。

其中，进一步包括 ：

所述上位机在确定当前Mura补偿数据正确后，向切换板发送控制信号，所述控制信号中包含烧录第一存储器指令以及当前Mura补偿数据；

所述切换板从所述控制信号中解析出烧录第一存储器指令以及当前Mura补偿数据，把所述当前Mura补偿数据作为正确的Mura补偿数据烧录到第一电路板中的第一存储器中，并建立所述第二电路板与所述第一存储器之间的连接。

其中，所述在上位机中生成多组与Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据的步骤包括：

获得当前Mura补偿数据中对应的多个灰阶；

选取其中三个灰阶，所述三个灰阶中相邻两个灰阶之间的中间灰阶，0灰阶和255灰阶的纯白图像作为多组测试灰阶图像数据。

其中，所述上位机获得液晶面板上显示的修正后测试图像数据对应的显示图像的灰度数据，并通过解析所述灰度数据以确定当前Mura补偿数据是否正确，从而获得正确的Mura补偿数据的步骤具体为：

在上位机中生成多组与当前Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据；

对每一组测试灰阶图像数据经当前Mura补偿数据修正后并在液晶面板上显示的图像进行灰度处理以及直方图统计；

根据所述直方图统计确定显示图像数据的画面亮度是否均匀，以确定当前Mura补偿数据是否正确，当画面亮度均匀时，将当前Mura补偿数据确定为正确的Mura补偿数；否则，确定当前Mura补偿数据不正确，重新生成新的当前Mura补偿数据发送给切换板，并生成与所述新的当前Mura补偿数据相对应的测试灰阶图像数据发送给第三电路板，继续对新的当前Mura补偿数据进行检测，直至最后获得正确的当前Mura补偿数据。

其中，所述对每一组测试灰阶图像数据经当前Mura补偿数据修正后并在液晶面板上显示的图像进行灰度处理以及直方图统计的步骤进一步包括：

对于一组修正后测试图像，通过间隔拍摄多幅图像，并获得每一幅图像的各像素对应的灰度值；

将所述多幅图像的每一像素对应的多个灰度值中，排除最大灰度值及最小灰度值，并对剩余的灰度值进行平均以获得每一像素对应的最终灰度值，从而获得每一组显示图像的灰度数据。

其中，根据所述直方图统计确定显示图像数据的画面亮度是否均匀，以确定当前Mura补偿数据是否正确的步骤包括：

对每组显示图像的灰度数据进行直方图统计，并统计其中每一灰度值对应的像素的个数；

统计出偏离目标值的绝对值最大值及个数，并分别与预先设定的比较阈值进行比较，从而确定灰度数据的画面是否均匀，以确定当前Mura补偿数据是否正确。

实施本发明实施例，具有如下有益效果：

本发明实施例提供的一种获得正确Mura补偿数据的方法及系统。通过上位机来控制转换板处于Mura补偿数据检测模式，并将当前Mura补偿数据存入第二电路板的第二存储器中，选择多组与当前Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据，输送给所述第二电路板；在第二电路板中，依次将每一组测试灰阶图像数据与当前Mura补偿数据进行处理，获得对应的修正后测试图像数据输出到液晶面板进行显示；通过相机拍摄液晶面板上显示的修正后测试图像，并获得每一组修正后测试图像对应的显示图像的灰度数据；对所有显示图像的灰度数据进行直方图统计，根据所述直方图统计确定显示图像数据的画面亮度是否均匀，以确定当前Mura补偿数据是否正确；只有在确定当前Mura补偿数据正确后，才将所述当前Mura补偿数据烧录到第一电路板中的第一存储器中。这样可以实现在线对当前Mura补偿数据进行检测，且能提高检测精度和效率，并能减少对第一存储器的烧录次数。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本发明提供的一种获得正确Mura补偿数据的系统的一个实施例的结构示意图；

图2是图1中切换板更详细的结构以及连接示意图；

图3是本发明提供的一种获得正确Mura补偿数据的方法的一个实施例的主流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

在此，还需要说明的是，为了避免因不必要的细节而模糊了本发明，在附图中仅仅示出了与根据本发明的方案密切相关的结构和/或处理步骤，而省略了与本发明关系不大的其他细节。

如图1所示，示出了本发明提供的一种获得正确Mura补偿数据的系统的一个实施例的结构示意图；请一并结合图2所示，在该实施例中，该检测Mura补偿数据异常系统包括：第一电路板11、第二电路板12、第三电路板15、切换板14以及上位机3；其中：

所述第一电路板11与液晶显示器的液晶面板2连接，所述第一电路板11、所述第二电路板12分别通过切换板14和上位机3相连接，所述第二电路板12与所述第一电路板11相连接，所述第三电路板15与上位机3相连接；

所述切换板14，用于在接收到来自上位机3的控制信号后，从所述控制信号中解析出当前Mura补偿数据或正确的Mura补偿数据，并用于根据所述控制信号在第二电路板12与切换板14的第二存储器之间建立连接，或在第二电路板12与所述第一电路板11的第一存储器之间建立连接；具体地，所述切换板14，包含有CPLD（Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件）芯片模块以及第二存储器142，所述第二存储器142用于临时存储来自上位机3的控制信号中的当前Mura补偿数据，其可以是静态随机存储器（SRAM），所述CPLD芯片模块用于切换所述第二电路板中时序控制器121与所述第一存储器110或所述第二存储器142之间的连接；

所述第三电路板15，用于接收来自上位机3的控制信号，从所述控制信号中获得多组与所述当前Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据，并输送给所述第二电路板12；

所述第二电路板12，其上设置有时序控制器121，所述时序控制器121用于所述测试灰阶图像数据，并与从所述切换板14上获得的当前Mura补偿数据并进行计算处理（即补偿计算），以获得取修正后的测试图像数据，并将所述修正后的测试图像数据通过连接线13输出至第一电路板11，并通过第一电路板11输出至所述液晶面板2进行显示；

所述上位机3，用于产生当前Mura补偿数据以及与所述当前Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据，并向切换板14和第三电路板15发送控制，并控制对当前Mura补偿数据进行在线检测，获得正确的Mura补偿数据。具体地，所述上位机用于获得液晶面板2上显示的修正后测试图像对应的显示图像的灰度数据，并通过解析所述灰度数据以确定当前Mura补偿数据是否正确，从而获得正确的Mura补偿数据；并用于将正确的Mura补偿数据通过所述切换板14发送给所述第一电路板11；

所述第一电路板11上设置有第一存储器110，所述第一存储器110用于从所述切换板14获得来自上位机3的正确的Mura补偿数据，并存储。

其中，进一步包括一个切换板16，所述切换板16设置与上位机3与所述切换板16之间，且与第三电路板15相连接，所述转换板16用于将来自上位机3的控制信号转换成IIC信号或SPI信号，其中，SPI信号被输送至所述切换板14，IIC信号被输送至所述第三电路板15，所述SPI信号包括烧录第一存储器指令和检测Mura补偿数据指令。

其中，所述CPLD芯片模块进一步包括SPI解析模块141和SPI接口转换模块140，其中：

所述SPI解析模块141用于解析来自转换板16的SPI信号，当检测到其CS1端口为低电平，解析所述SPI信号为烧录第一存储器指令，将SPI信号所包含的Mura补偿数据作为正确的Mura补偿数据烧录到第一存储器110；当检测到其CS2端为低电平时，解析所述SPI信号为检测Mura补偿数据指令，将SPI信号中所包含的Mura补偿数据作为当前Mura补偿数据烧录到第二存储器142中，并将所述第二电路板12与所述第二存储器142建立SPI连接，当时序控制器121重新上电或复位时，其将读取来自第二存储器的当前Mura补偿数据；

所述SPI接口转换模块140用于将所述SPI解析模块141所解析出来的信号写入所述第一存储器110或第二存储器142；或者用于从所述第一存储器110或第二存储器142中读取数据。

另外，需要说明的是，由于在转换板上采用了SPI接口进行通信，下面简要介绍一下SPI的通信原理，SPI的通信很简单，它以主从方式工作，这种模式通常有一个主设备和一个或多个从设备，需要至少4根线，事实上3根也可以（例如，用于单向传输时，也就是半双工方式）。也是所有基于SPI的设备共有的，它们是SDI（数据输入）、SDO（数据输出）、SCLK（时钟）、CS（片选）。其中，通信的方式可以是SPI总线主机输出/从机输入，或者SPI总线主机输入/ 从机输出；其中时钟信号SCLK由主设备产生；片选信号CS为从设备使能信号，由主设备控制，只有片选信号为预先规定的使能信号时（如高电位），对此芯片的操作才有效。故允许在同一总线上连接多个SPI设备成为可能。

在一个例子中，所述上位机通过下述方式获得正确的Mura补偿数据：

生成多组与当前Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据；

并对每一组测试灰阶图像数据经当前Mura补偿数据修正后并在液晶面板上显示的图像进行灰度处理以及直方图统计；

根据所述直方图统计确定显示图像数据的画面亮度是否均匀，以确定当前Mura补偿数据是否正确，当画面亮度均匀时，将当前Mura补偿数据确定为正确的Mura补偿数；否则，确定当前Mura补偿数据不正确，重新生成新的当前Mura补偿数据发送给切换板，并生成与所述新的当前Mura补偿数据相对应的测试灰阶图像数据发送给第三电路板，继续对新的当前Mura补偿数据进行检测，直至最后获得正确的当前Mura补偿数据。

如图3所示，示出了本发明实施例提供的一种获得正确Mura补偿数据的方法的一个实施例的主流程示意图，可以理解的是，本方法是在如图1和图2示出的系统中实施，在该实施例中，该方法包括如下步骤：

步骤S10，切换板接收来自上位机的控制信号，并在解析到所述控制信号为检测Mura补偿数据指令时，将所述指令中包含的当前Mura补偿数据烧录到切换板的CPLD模块的第二存储器中；

步骤S11，控制切换板与第二电路板建立连接，以使第二电路板读取存储于所述第二存储器中的当前Mura补偿数据；

步骤S12，第三电路板接收并解析来自上位机的控制信号（IIC信号），获得多组与当前Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据，并输送给所述第二电路板；

其中，进一步包括在上位机中产生多组与Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据的步骤为：

获得当前Mura补偿数据中对应的多个灰阶；

选取其中三个灰阶，所述三个灰阶中相邻两个灰阶之间的中间灰阶（中间值），0灰阶和255灰阶的纯白图像作为多组（即七组）测试灰阶图像数据。

可以理解的是，在本实施例中选择七组仅为举例，在其他的实施例中，当可以选择不同数目的组别；

步骤S13，第二电路板从所述切换板中获得所述当前Mura补偿数据，并从所述第三电路板中获得所述测试灰阶图像数据，依次将每一组测试灰阶图像数据与所述当前Mura补偿数据进行处理，获得对应的修正后的测试图像数据，并经第一电路板输出到液晶面板上；

步骤S14，所述上位机获得液晶面板上显示的修正后测试图像数据对应的显示图像的灰度数据，并通过解析所述灰度数据以确定当前Mura补偿数据是否正确，从而获得正确的Mura补偿数据。

具体地，所述方法进一步包括如下步骤：

转换板将来自上位机的控制信号转换成IIC信号或SPI信号，并将所述SPI信号输送给所述切换板，或将所述IIC信号被输送至所述第三电路板；其中，所述SPI信号包括烧录第一存储器指令和检测Mura补偿数据指令。

具体地，所述步骤S14进一步包括：

步骤S140，在上位机中生成多组与当前Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据；

步骤S141，对每一组测试灰阶图像数据经当前Mura补偿数据修正后并在液晶面板上显示的图像进行灰度处理以及直方图统计；

步骤S142，根据所述直方图统计确定显示图像数据的画面亮度是否均匀，以确定当前Mura补偿数据是否正确，当画面亮度均匀时，将当前Mura补偿数据确定为正确的Mura补偿数；否则，确定当前Mura补偿数据不正确，重新生成新的当前Mura补偿数据发送给切换板，并生成与所述新的当前Mura补偿数据相对应的测试灰阶图像数据发送给第三电路板，继续对新的当前Mura补偿数据进行检测，直至最后获得正确的当前Mura补偿数据。

所述步骤S141进一步包括：

拍摄液晶面板上显示的修正后的测试图像，并获得每一组修正后测试图像对应的显示图像的灰度数据；具体地，包括：

对于一组修正后测试图像，通过间隔拍摄多幅图像（如五幅），并获得每一幅图像的各像素对应的灰度值；

将所述多幅图像的每一像素对应的多个灰度值中，排除最大灰度值及最小灰度值，并对剩余的灰度值进行平均以获得每一像素对应的最终灰度值，从而获得每一组显示图像的灰度数据，可以理解的是，通过上述的处理，可以减少因拍摄产生的误差，提高灰度数据的准确率；

在该实施例中，由于有七组修正后测试图像，故最终获得七幅显示图像的灰度数据；

其中，所述步骤S142进一步包括：

对每组显示图像的灰度数据进行直方图统计，并统计其中每一灰度值对应的像素的个数；可以理解的是，灰度级范围[0,L-1]数字图像的直方图是离散函数h(Rk)=Nk；其中，Rk是第k级灰度值，Nk为图像中灰度为Nk的个数，通过直方图函数可以获得每一灰度值对应的像素个数；

统计出偏离目标值的绝对值最大值及个数，并分别与预先设定的比较阈值进行比较，从而确定灰度数据的画面是否均匀，如果画面均匀，则确认当前当前Mura补偿数据为正确的Mura补偿数据。

可以理解的是，通过直方图的形式，以及与比较阈值进行比较，这种比较比通过人眼来识别更加客观，精度高，且能提高效率。

可以理解的是，所述方法进一步包括：

上位机在确定当前Mura补偿数据正确后，向切换板发送控制信号，所述控制信号中包含烧录第一存储器指令以及当前Mura补偿数据；

所述切换板从所述控制信号中解析出烧录第一存储器指令以及当前Mura补偿数据，把所述当前Mura补偿数据作为正确的Mura补偿数据烧录到第一电路板中的第一存储器中，并建立所述第二电路板与所述第一存储器之间的连接。

综上所述，本发明实施例提供的一种获得正确Mura补偿数据的方法及系统。通过上位机来控制转换板处于Mura补偿数据检测模式，并将当前Mura补偿数据存入第二电路板的第二存储器中，选择多组与当前Mura补偿数据相关联的测试灰阶图像数据，输送给所述第二电路板；在第二电路板中，依次将每一组测试灰阶图像数据与当前Mura补偿数据进行处理，获得对应的修正后测试图像数据输出到液晶面板进行显示；通过相机拍摄液晶面板上显示的修正后测试图像，并获得每一组修正后测试图像对应的显示图像的灰度数据；对所有显示图像的灰度数据进行直方图统计，根据所述直方图统计确定显示图像数据的画面亮度是否均匀，以确定当前Mura补偿数据是否正确；只有在确定当前Mura补偿数据正确后，才将所述当前Mura补偿数据烧录到第一电路板中的第一存储器中。这样可以实现在线对当前Mura补偿数据进行检测，且能提高检测精度和效率，并能减少对第一存储器的烧录次数。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅是本申请的具体实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。