一种测量RFID标签耦合性能参数的方法及装置

摘要

本发明涉及一种测量RFID标签耦合性能参数的方法及装置，本发明的方法通过改变目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度或读写器的位置，测量目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及RFID读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响。本发明的方法中目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及RFID读写装置的发射角度这三个参数均可调，可以最大化的对标签摆放和布局进行最优化的模拟和实验，分别测量目标标签和干扰标签之间的距离、目标标签和干扰标签之间的角度以及RFID读写装置的发射角度对目标标签的最小读取功率值的影响，便于操作，准确度高。