主观式验光装置及主观式验光程序

摘要

本发明提供一种主观式验光装置及主观式验光程序，在主观地测定被检眼的光学特性时，高精度地测定被检眼的光学特性。该主观式验光装置主观地测定被检眼的光学特性，具备：主观式测定部，具有配置在将视标光束向被检眼投影的投射光学系统的光路中并使视标光束的光学特性发生变化的矫正光学系统，且主观地测定被检眼的光学特性，其中，主观式验光装置包括：客观式测定部，具有向被检眼的眼底射出测定光并接收该测定光的反射光的测定光学系统，且客观地测定被检眼的光学特性；以及控制单元，在通过主观式测定部主观地测定被检眼的光学特性的期间，通过客观式测定部客观地测定被检眼的光学特性。