一种MMIC通用测试夹具

摘要

本发明属于夹具技术领域，提供了一种MMIC通用测试夹具。该测试夹具包括射频输入座体、射频输出座体及用于安装待测MMIC的凸台，射频输入座体上安装有输入微带线和用于对MMIC供电的直流供电板，射频输出座体内安装有输出微带线，凸台可拆卸地安装在射频输入座体上，并与输入微带线的输出端相对接，射频输出座体能沿射频方向滑动地安装在射频输入座体上。本发明将凸台可拆卸地安装在射频输入底座上之后，通过射频输出座体沿射频方向在射频输入底座上滑动，从而能够带动输出微带线靠近或接触凸台上的MMIC，实现射频方向的调节，以适应不同尺寸的MMIC，降低了MMIC的测试周期和成本。

说明书

技术领域

本发明属于夹具技术领域，尤其涉及一种MMIC(Monolithic MicrowaveIntegrated Circuit单片微波集成电路)通用测试夹具。

背景技术

采用GaAs、InP基或Si基的毫米波频段MMIC已广泛应用于短距离无线高速传输、卫星通信及军事雷达等领域。在毫米波MMIC测试阶段，采用波导形式具有更高的可靠性、经济性以及更低的损耗，即测试夹具的输入/输出端口为波导形式，这就需要设计平面微带结构,以实现波导结构与平面微带结构之间的良好过渡。然而对于不同类型和尺寸的MMIC，需要制备不同构造的测试夹具，使用不便，这将大大增加MMIC测试的周期和成本。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题在于提供一种MMIC通用测试夹具，旨在解决现有技术中的MMIC测试夹具所存在的测试周期长和成本高的问题。

本发明实施例是这样实现的，一种MMIC通用测试夹具，包括射频输入座体和射频输出座体，所述射频输入座体上安装有输入微带线和用于对MMIC供电的直流供电板，所述射频输出座体内安装有输出微带线，所述通用测试夹具还包括用于安装待测MMIC的凸台，所述凸台可拆卸地安装在所述射频输入座体上，并与所述输入微带线的输出端相对接，所述射频输出座体能沿射频方向滑动地安装在所述射频输入座体上，并能使所述输出微带线的输入端靠近或接触所述凸台上的待测MMIC。

进一步地，所述射频输入座体包括可拆卸连接的射频输入上盖和射频输入底座，所述输入微带线和直流供电板安装在所述射频输入底座上，所述射频输入上盖固定安装在所述射频输入底座上，所述射频输入底座的底端设有滑块及开设有长通孔，所述滑块与所述射频输出座体之间通过连接件固定连接，并且所述连接件穿设在所述长通孔中。

进一步地，所述射频输出座体包括可拆卸连接的射频输出上盖和射频输出底座，所述射频输入底座上具有供所述射频输出底座滑动的容置槽，所述射频输出上盖固定安装在所述射频输出底座上，所述射频输出底座与所述滑块之间通过所述连接件固定连接，所述射频输入底座的底端具有滑槽，所述滑块在所述滑槽内滑动。

进一步地，所述射频输入底座上具有孔位，所述孔位具有开口，所述凸台安装在所述孔位中，所述凸台上具有凹槽，所述射频输出底座上具有凸块，所述输出微带线安装在所述凸块上，所述凸块能通过所述开口靠近所述凹槽或抵靠所述凹槽，使所述凸块上的输出微带线的输入端靠近或抵靠所述凸台上的待测MMIC。

进一步地，所述射频输入底座与射频输入上盖之间构成的信号输入槽口的横截面呈L形，所述信号输入槽口与所述孔位之间贯穿有第一凹槽，所述输入微带线安装在所述第一凹槽内，并且其输入端伸入所述信号输入槽口中，所述射频输出座体内的信号输出槽口亦呈L形，所述凸块上开设有与所述信号输出槽口连通的第二凹槽，所述输出微带线安装在所述第二凹槽内，并且其输出端伸入所述信号输出槽口中。

进一步地，所述射频输入底座上开设有用于调节所述直流供电板安装位置的若干螺纹孔，所述直流供电板上开设有若干与所述螺纹孔配合的开孔，所述直流供电板与所述射频输入底座之间利用螺丝穿设所述开孔与螺纹孔进行固定连接。

本发明实施例与现有技术相比，有益效果在于：本发明针对不同尺寸和类型的MMIC配置相匹配的凸台，将凸台安装在射频输入座体上之后，通过射频输出座体沿射频方向在频输入座体上滑动，从而能够带动输出微带线靠近或接触凸台上的MMIC，实现了射频方向上位置的调节，以适应不同尺寸的MMIC，使用方便，大大降低了MMIC的测试周期和成本；同时，保证了微带线与MMIC的间隙尽量小，使得微带线与MMIC之间通过金丝键合后，能够增强信号传输，防止测试性能恶化。

附图说明

图1是本发明实施例提供的可调式MMIC通用测试夹具整体结构示意图；

图2是图1所示的MMIC通用测试夹具的俯视结构示意图；

图3是图2的后视结构示意图；

图4是图1的分解结构示意图；

图5是图1中的射频输入底座示意图；

图6是图5所示的射频输入底座另一角度示意图；

图7是图1中的用于安装待测MMIC的凸台块示意图；

图8是图1中的直流供电板示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

如图1至图6所示，是本发明实施例提供的一种MMIC通用测试夹具，该测试夹具包括射频输入座体、射频输出座体3以及用于安装待测MMIC 7的凸台4。射频输入座体上安装有用于射频信号输入的输入微带线5和用于对MMIC 7供电的直流供电板8，射频输出座体3内安装有用于射频信号输出的输出微带线6，凸台4可拆卸地安装在射频输入座体上，并与输入微带线5的输出端相对接，射频输出座体3能沿射频方向X滑动地安装在射频输入座体上，并能使输出微带线5的输入端靠近或接触凸台4上的待测MMIC 7。

上述实施例中，射频输入座体包括可拆卸连接的射频输入上盖2和射频输入底座1，输入微带线5和直流供电板8安装在射频输入底座1上，射频输入上盖2固定安装在射频输入底座1上。射频输入底座1的底端设有滑块9及开设有长通孔10，滑块9与射频输出座体3之间通过连接件20固定连接，并且连接件20穿设在长通孔中10。射频输出座体3包括可拆卸连接的射频输出上盖31和射频输出底座32，射频输入底座1上具有供射频输出底座32滑动的容置槽11，射频输出上盖31固定安装在射频输出底座32上，射频输出底座32与滑块9之间通过连接件20固定连接，射频输入底座1的底端具有滑槽12，滑块9在滑槽12内滑动。这样，通过推动滑块9在滑槽12内沿射频方向X滑动，从而带动射频输出底座32与射频输出上盖31一起沿射频方向X移动，使输出微带线6移动至与凸台4上的待测MMIC 7相互靠近或接触，针对不同尺寸的MMIC 7，通过滑块9的移动调节，保证了输出微带线6与MMIC 7之间的间隙尽量小，增强信号之间的传输，防止测试性能恶化。

上述的射频输入底座1上具有孔位13，孔位13具有开口130，凸台4安装在孔位13中。请一同参阅图7所示，凸台4上具有凹槽40，射频输出底座32上具有凸块320，输出微带线6安装在凸块320上，推动滑块9，滑块9带动射频输出底座32移动，射频输出底座32带动凸块320通过开口130靠近凹槽40或抵靠在凹槽40内，使凸块320上的输出微带线6的输入端靠近或抵靠凸台4上的待测MMIC 7，从而实现输入与输出的相位位置的精准调节。上述的待测MMIC 7，根据类型与尺寸的不同，选择相匹配规格的凸台4，以适应安装固定不同类型和尺寸的待测MMIC 7。请一同参阅图6所示，待测MMIC 7固定在凸台4上的结构方式是：根据凸台4规格，在凸台4的上表面通过导电银浆粘贴相适应的铜片41，在铜片41上通过导电银浆粘贴待测MMIC 7，再在待测MMIC 7两侧的铜片41上通过导电银浆粘贴MIM(metal-insulator-metal金属-绝缘体-金属)电容42，最后将凸台4通过螺丝固定方式安装在射频输入底座1的孔位13内，射频输入底座1上的直流供电板8经MIM电容42键合到MMIC 7上，电源经直流供电板8对MMIC 7进行供电。

上述实施例中，射频输入底座1与射频输入上盖2之间构成的信号输入槽口14的横截面呈L形，信号输入槽口14与孔位13之间贯穿有第一凹槽17，输入微带线5安装在第一凹槽17内，并且其输入端伸入信号输入槽口14中。射频输出座体3内的信号输出槽口30亦呈L形，凸块320上开设有与信号输出槽口30连通的第二凹槽(图中未示出)，输出微带线6安装在第二凹槽内，并且其输出端伸入信号输出槽口30中。射频输入信号通过常用的标准矩形波导馈入，经由波导转微带过渡结构实现信号从波导到微带电路的转换，矩形波导在传输方向上做了90°的拐弯，以实现输入与输出的共线传输。

上述实施例中，射频输入底座1上开设有用于调节直流供电板安装位置的若干螺纹孔15。请一同参阅图8所示，直流供电板8上开设有若干与螺纹孔15配合的开孔80，直流供电板8与射频输入底座1之间利用螺丝16穿设开孔80与螺纹孔15进行固定连接，使直流供电板8的安装位置能够与MIM电容42电性相接。由于直流偏置方向Y的空间排布对MMIC 7性能的影响较小，为了简化设计与加工成本，在本实施例中，在射频输入底座1上设有两档螺纹孔15，在直流供电板上设有分别与两档螺纹孔15相对应的两档开孔80，用于调节直流偏置方向Y的位置。若MMIC 7在直流偏置方向Y的尺寸较小，通过螺丝16穿设一档开孔801与一档螺孔151，将直流供电板8固定在射频输入底座1上，若MMIC 7在直流偏置方向Y的尺寸较大，则通过螺丝16穿设二档开孔802与二档螺孔152，将直流供电板8固定在射频输入底座1上，使直流供电板8能够相对MIM电容42的位置进行调节，以达到对直流偏置位置的调节。

综上所述，上述的MMIC通用测试夹具能够针对不同类型和尺寸的MMIC 7无需更换整个测试夹具，只需要更换与MMIC 7尺寸相匹配的凸台，通过移动射频输出座体3来实现在射频方向X上的位置调节，适应对不同尺寸的MMIC 7的测试，使用方便灵活，降低了MMIC 7的测试周期和成本，同时保证了微带线与MMIC 7的间隙尽量小，从而增强信号传输，防止测试性能恶化。另外，该测试夹具能够根据MMIC 7的尺寸，在直流偏置方向Y上进行调节，减少对MMIC 7性能的影响。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。