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用于正电子发射成像设备的检测器及正电子发射成像设备

摘要

本发明提供一种用于正电子发射成像设备的检测器及正电子发射成像设备。检测器包括:闪烁晶体,其中,闪烁晶体是一体化的闪烁晶体,并且闪烁晶体具有通孔,通孔用于容纳待成像对象;以及至少一个光电传感器阵列,与闪烁晶体耦合,用于检测伽玛光子与闪烁晶体发生反应所产生的可见光子,其中,伽玛光子通过在待成像对象体内发生的正电子湮灭效应产生。根据本发明实施例的检测器使得采用该检测器的正电子发射成像设备的伽玛光子定位精度高、灵敏度高、边缘效应弱、机械设计难度低。

著录项

  • 公开/公告号CN106562799A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-04-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉中派科技有限责任公司;

    申请/专利号CN201610910524.3

  • 申请日2016-10-19

  • 分类号A61B6/03(20060101);G01T1/202(20060101);G01T1/29(20060101);

  • 代理机构北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人徐丁峰;戴亚南

  • 地址 430074 湖北省武汉市东湖开发区关东工业园东信路11号C、D栋1-4层

  • 入库时间 2023-06-19 01:56:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-17

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):A61B6/03 申请公布日:20170419 申请日:20161019

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-05-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/03 申请日:20161019

    实质审查的生效

  • 2017-04-19

    公开

    公开

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