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波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置和方法

摘要

一种波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置,包括准直光源、圆起偏器、第一可变延迟器、第二可变延迟器、检偏器、光电探测器和信号处理系统。本发明能实时测量波片的相位延迟量和快轴方位角,而且没有机械转动器件,无需复杂的信号调制解调单元,结构简单,测量时间较短,测量范围宽。

著录项

  • 公开/公告号CN105403382A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201510708498.1

  • 发明设计人 曾爱军;顾帅妍;朱玲琳;黄惠杰;

    申请日2015-10-27

  • 分类号G01M11/02;

  • 代理机构上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2023-12-18 14:45:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-01

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01M11/02 申请公布日:20160316 申请日:20151027

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2016-04-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20151027

    实质审查的生效

  • 2016-03-16

    公开

    公开

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